基本情報

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三井　真吾

MITSUI Shingo


職名

助教

学系

データサイエンス学系

ホームページ

https://researchmap.jp/s.mitsui

研究シーズ

（滋賀大学シーズ集No.17より）「半導体検出器の開発／測定データの機械学習を用いた解析手法の研究」

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研究キーワード 【 表示 ／ 非表示 】

  • SOIピクセル検出器

  • X線残留応力測定

  • シリコン検出器

  • 高エネルギー物理学

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出身大学 【 表示 ／ 非表示 】

  • 筑波大学  第一学群  自然学類

    大学，2008年03月，卒業，

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出身大学院 【 表示 ／ 非表示 】

  • 総合研究大学院大学  高エネルギー加速器科学研究科

    博士課程，2013年03月，修了，

  • 筑波大学  数理物質科学研究科

    修士課程，2010年03月，修了，

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学内職歴 【 表示 ／ 非表示 】

  • 滋賀大学 データサイエンス・AIイノベーション研究推進センター，助教，2022年04月 ～ 継続中

  • 滋賀大学 データサイエンス教育研究センター，助教，2021年10月 ～ 2022年03月

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学外略歴 【 表示 ／ 非表示 】

  • 金沢大学 人間社会研究域 人間科学系，特任准教授，2020年08月

  • 金沢大学 人間社会研究域 人間科学系，助教，2019年01月

  • 金沢大学 先端科学・イノベーション推進機構，博士研究員，2016年04月

  • 金沢大学 人間社会研究域 人間科学系，博士研究員，2015年04月

  • 高エネルギー加速器研究機構 素粒子原子核研究所，研究員，2013年06月

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所属学協会 【 表示 ／ 非表示 】

  • 日本鉄鋼協会，

  • 日本物理学会，

  • 日本非破壊検査協会，

  • 高エネルギー物理学研究者会議，

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研究分野 【 表示 ／ 非表示 】

  • 高エネルギー物理学

  • シリコン検出器

  • X線残留応力測定

  • 自然科学一般 / 半導体、光物性、原子物理

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論文 【 表示 ／ 非表示 】

  • Anomaly detection in rails using dimensionality reduction，ISIJ International，63巻 1号 （頁 170 ～ 178） ，2023年01月，Shingo Mitsui, Toshihiko Sasaki, Masayoshi Shinya, Yasuo Arai, Ryutaro Nishimura

    DOI:10.2355/isijinternational.ISIJINT-2022-279，研究論文（学術雑誌），共著

    担当区分：筆頭著者,　責任著者  

  • X-ray metal material evaluation using an SOI pixel detector，Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment，979巻 （頁 164376） ，2020年11月，S. Mitsui, T. Sasaki, M. Shinya, Y. Arai, T. Miyoshi, R. Nishimura

    DOI:10.1016/j.nima.2020.164376，研究論文（国際会議プロシーディングス），共著

    担当区分：筆頭著者,　責任著者  

  • Development of integration-type silicon-on-insulator monolithic pixel detectors using a float zone silicon，Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment，953巻 （頁 163106） ，2020年02月，S. Mitsui, Y. Arai, T. Miyoshi, A. Takeda

    DOI:10.1016/j.nima.2019.163106，研究論文（学術雑誌），共著

    担当区分：筆頭著者,　責任著者  

  • Development of Debye-ring measurement system using SOI pixel detector，Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment，924巻 （頁 441 ～ 447） ，2019年04月，S. Mitsui, T. Sasaki, Y. Arai, T. Miyoshi, R. Nishimura

    DOI:10.1016/j.nima.2018.09.147，研究論文（国際会議プロシーディングス），共著

    担当区分：筆頭著者,　責任著者  

  • Evaluation of slim-edge, multi-guard, and punch-through-protection structures before and after proton irradiation，Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment，699巻 （頁 36 ～ 40） ，2013年01月，S. Mitsui, Y. Unno, Y. Ikegami, Y. Takubo, S. Terada, K. Hara, Y. Takahashi, O. Jinnouchi, R. Nagai, T. Kishida, K. Yorita, K Hanagaki, R. Takashima, S. Kamada, K. Yamamura

    DOI:10.1016/j.nima.2012.05.071，研究論文（国際会議プロシーディングス），共著

    担当区分：筆頭著者,　責任著者  

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総説・解説記事（速報、書評、報告書、記事他） 【 表示 ／ 非表示 】

  • 2素子実装SOIピクセル検出器基板における検出器性能評価，日本物理学会講演概要集(CD-ROM)，75巻 1号 ，2020年，西村龍太郎, 佐々木敏彦, 三井真吾, 新谷正義, 新井康夫, 三好敏喜, 岸本俊二

    ，単著

  • 2素子実装SOIピクセル検出器基板における検出器性能評価 II，日本物理学会講演概要集(CD-ROM)，75巻 2号 ，2020年，西村龍太郎, 佐々木敏彦, 三井真吾, 新谷正義, 新井康夫, 三好敏喜, 岸本俊二

    ，単著

  • 主成分分析および機械学習による金属材料の異常検知，材料とプロセス(CD-ROM)，33巻 2号 ，2020年，三井真吾, 佐々木敏彦, 新谷正義, 西村龍太郎

    ，単著

  • SOIピクセル検出器を用いたX線応力測定装置用DAQシステムの開発 II，日本物理学会講演概要集(CD-ROM)，74巻 2号 ，2019年，西村龍太郎, 佐々木敏彦, 三井真吾, 新谷正義, 新井康夫, 三好敏喜, 岸本俊二

    ，単著

  • cos α法によるバニシング加工面の三軸応力分布測定，塑性加工連合講演会講演論文集，70th巻 ，2019年，新谷正義, 佐々木敏彦, 三井真吾, 西村龍太郎, 立矢宏, 小塚裕明, 岡田将人

    ，単著

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産業財産権 【 表示 ／ 非表示 】

  • 特許権，Ｘ線回折測定装置及びＸ線回折測定ロボット，乾典規, 佐々木敏彦, 三井真吾

    出願番号（ 特願2021-066785，2021年04月09日 ） 公開番号（ 特開2022-161735，2022年10月21日 ） ，

    出願国：

  • 特許権，Ｘ線回折測定装置，乾典規, 佐々木敏彦, 三井真吾

    出願番号（ 特願2020-193007，2020年11月20日 ） 公開番号（ 特開2022-081823，2022年06月01日 ） ，

    出願国：

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講演・口頭発表等 【 表示 ／ 非表示 】

  • 日本非破壊検査協会　2023年度秋季講演大会，，2023年10月，2023年10月06日，応力測定と機械学習による異常検知，口頭発表（一般）

  • 日本物理学会2022年秋季大会，国内会議，2022年09月，2022年09月14日，INTPIX4NA検出器を用いた中性子イメージングセンサーの開発，口頭発表（一般）

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共同研究・競争的資金等の研究課題 【 表示 ／ 非表示 】

  • 統計的解析手法による転がり疲労の定量的評価技術の開発，基盤研究(C)，2021年04月 ～ 2024年03月，日本学術振興会

  • SOI式超高速X線イメージングによるレールの初期転動接触疲労の実態解明，基盤研究(A)，2016年04月 ～ 2021年03月，日本学術振興会

    鉄道レールの転がり疲労のメカニズムを解明するため、実路線で用いられたレールに対するＸ線回折データ（回折環）を収集して分析する手法について検討を進めた。なお、本研究の目的においては長大なレール面上の疲労状態を有効に分析するために不可欠な高速かつ高精度なデータ収集技術の実現を同時に検討した。この目的の一つである高精度なデータ収集に関しては、結晶レベルの情報を得ることが可能なＸ線回折法に、二次元検出器を用いて進めた。また、本研究の二次元検出器は一体型SOIピクセル検出器(以下、SOI)を採用し、高速性と高精細性を高めた。データ解析としては、残留応力と微視的ひずみ状態を中心に解析した。また、残留応力については三軸応力状態を考慮した。残留応力、微視的ひずみ状態共に回折環全体の情報を用いる新データ解析理論(cosα法)を適用して解析した。SOIは高エネルギー加速器研究機構(KEK)の研究グループが開発した日本独自の最新技術である。また、cosα法およびその三軸応力テンソル解析理論に関しても日本独自の技術であるという特長がある。これらのハードとソフトを駆使して、まだ世界的に未解明とされているレール/車輪間の転がり疲労の実態と出現メカニズムを解明することが本研究の目的である。平成30年度までにＸ線装置を完成させ、平成31年度以降より実使用レールの測定・分析を進めてきた。今年度は、実路線レールの現場測定の実施、実使用レールの測定及び従来技術との比較、測定装置の改良をそれぞれ進めた。とくに、実使用レールの分析に力を入れ、転がり疲労によるき裂発生部とその前後の状態を長さ約20mに渡り、幅方向40mmの間を縦横それぞれ5mm間隔に合計約29,000点の回折環を3方向ずつ計測して三軸応力解析を行って検討した。また、SOI方式の三軸応力測定結果とイメージングプレート方式の結果とを比較検討した。

  • 中性子デバイリングを利用したエリアディテクタ式中性子残留応力測定機構の開発，挑戦的萌芽研究，2016年04月 ～ 2019年03月，日本学術振興会

    中性子や放射光、X線などを利用した二次元検出器方式の（残留）応力測定技術の開発を目標として、データ解析理論（cosα法）の適用を軸に検討を行った。実験室X線、高エネルギー加速器研究機構等の放射光、等による基礎実験をもとに検討を進め、X線領域での実験検証により、現在の世界標準技術(sin2ψ法）に比べてほぼ10倍の高速測定とともに、装置の小型化による可搬性向上が可能である特長などが判明した。さらに、強加工を受けた鋼材で顕在化する三軸応力状態が出現したサンプルに対しては平面応力解析に比べて一層の効率的測定が可能であることを示し、転動接触疲労が重要な鉄道レールに対して有効に適用できることを示した。

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共同研究希望テーマ 【 表示 ／ 非表示 】

  • （滋賀大学シーズ集No.17より）【代表的な研究テーマ】「半導体検出器の開発／測定データの機械学習を用いた解析手法の研究」，【キーワード】半導体検出器／SOI ピクセル検出器／放射線測定／ X 線残留応力測定／多変量解析／ 機械学習

    （詳細は以下のＵＲＬに掲載しております。）https://www.shiga-u.ac.jp/wp/wp-content/uploads/seeds17-94-1.pdf

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